Aparatura
FIB-SEM, skaningowy mikroskop elektronowy SEM z działem jonowym FIB
Osoba kontaktowa:
Kruk Adam
Opis techniczny:
FIB-SEM Crossbeam 350 z kolumną GEMINI i źródłem elektronów FEG oferuje obrazowanie w wysokiej rozdzielczości przy użyciu zaawansowanych trybów detekcji, w tym InLens (SE), InLens (EsB), Angle Selective Back-Scattered Detektor (…
